1）與研發(fā)團隊密切協作，參與新型存儲芯片研發(fā)階段的測試方案研討與技術決策；
2）負責ATE測試工作，依據芯片設計文檔，在測試機臺上開發(fā)測試程序，并評審配套的Loadboard、Probecard等硬件設計方案；
3）調試并驗證新型存儲芯片的測試程序及相關硬件，確保其功能準確性、穩(wěn)定性及操作便捷性；
4）編制測試技術文檔，對內部用戶進行培訓，協助解決測試應用中的技術難題與異常問題；
5）持續(xù)優(yōu)化測試流程，降低測試成本，從測試視角支持新產品順利實現開發(fā)與量產。