崗位職責(zé)：
1.負(fù)責(zé)芯片功能、性能及可靠性測試方案設(shè)計與用例開發(fā)，覆蓋CP/FT/SLT等測試階段
2.搭建和維護(hù)ATE測試平臺（如Advantest、Teradyne等），完成測試程序調(diào)試與優(yōu)化
3. 分析測試數(shù)據(jù)與失效模式，協(xié)同設(shè)計、工藝團(tuán)隊定位問題根因并推動改進(jìn)
4.編寫測試報告、作業(yè)指導(dǎo)書及標(biāo)準(zhǔn)操作流程，保障測試一致性與可追溯性
5.參與新芯片項目DFT評審，提出可測性設(shè)計建議，提升量產(chǎn)測試覆蓋率與效率

任職要求：
1. 本科及以上學(xué)歷，微電子、電子工程、自動化、計算機(jī)等相關(guān)專業(yè)優(yōu)先
2.具備2年以上芯片測試或半導(dǎo)體相關(guān)工作經(jīng)驗，熟悉數(shù)字/模擬/混合信號芯片測試原理
3. 熟練使用C/C++/Python進(jìn)行測試腳本開發(fā)，掌握Perl/Tcl者加分
4.了解JTAG、Boundary Scan、ScanChain等DFT結(jié)構(gòu)，有ATE平臺調(diào)試經(jīng)驗者優(yōu)先
5. 具備良好的邏輯分析能力、跨部門協(xié)作意識及英文技術(shù)文檔閱讀能力